BAT-SCANNER / Mesures en champs proches
Analyse de design par la mesure
Mesures en champs proches
En tant que pionnier et leader sur le marché du traitement des ondes électromagnétiques, NEXIO a utilisé son expérience et ses savoir-faire afin de mettre au point BAT-SCANNER.
Il permet d’aider à la conception de circuits électroniques en évaluant leur comportement du point de vue CEM.
Localiser la cause d’un problème c’est 80% de la résolution du problème.
100% des utilisateurs sont satisfaits avec une solution, une meilleure connaissance de leur produit et des pistes d’amélioration court et moyen termes.
Spécifications :
7 raisons d’utiliser BAT-SCANNER
Optimisation Économique
Maintien de la qualité des produits et des obsolescences, comparaison rapide, précise et reproductible, aide au choix de solutions, de composants, gain économique…
Efficacité
Réduit le temps d’investigation et les coûts des corrections, trouve et localise les risques et les causes des problèmes…
Performance Maîtrisée
Maîtrise la performance des produits et de leurs évolutions, analyse en temps réelle des performances CEM, aide à comprendre les phénomènes, impact d’un blindage, d’un filtre…
Mobilité
Transportable pour la confidentialité et le travail d’équipe.
Qualification Accélérée
Diminue les jours d’essais de qualification par une pré-qualification.
Précis, rapide et simple
Utilisable par tous, pas besoin d’avoir des connaissances CEM.
Collaboratif et visuel
Collaboratif par sa mobilité et sa représentation visuelle pour tous les métiers d’un projet.
Solutions pour les industriels
- Décliner des contraintes au niveau des spécifications de cartes et sous-ensembles, mais aussi vérifier la tenue aux contraintes rayonnées.
- Évaluer les non régressions dans le cadre de modifications de conception ou d’obsolescence de composants.
- Caractériser les fuites d’un blindage (localisation, quantification…) et évaluer la désadaptation d’impédance des pistes d’un PCB…
- Optimiser le placement composant-carte ou carte-boîtier afin de réduire les phénomènes d’auto-immunité.
- Construire des bases de données de composants ou de cartes afin d’analyser la concurrence, 2ème source, nouvelles technologies…
- Calculer la distribution du champ à n’importe quelle distance grâce aux techniques de transformation champ proche / champ lointain.
- Conforter, Étayer, Alimenter des travaux de modélisation et de simulation numérique (création de modèle en rayonnée).
Témoignage
Ce que nos clients disent
Automatisation avec BAT-SCAN
NEXIO a mis au point un logiciel industriel adapté aux mesures réalisées avec un système scanner. BAT-SCAN s’adapte à tous systèmes robotiques et vous offre une multitude de fonctions dédiées. BAT-SCAN est le 1er logiciel compatible avec le format standardisé IEC61967-1-1, qui permet l’exploitation des résultats dans vos logiciels de simulation numérique.
BAT-SCAN bénéficie des avantages de BAT-EMC, leader des logiciels d’automatisation d’essais CEM : support technique, portail web, maintenance et une librairie de drivers d’instruments.
Modélisation & Simulation
L’équipe NEXIO a implémenté les fonctionnalités nécessaires pour automatiser les mesures vectorielles, permettant un lien direct avec les outils de simulation CEM du marché.
Ces paramètres, en complément de nouvelles fonctions de post-traitements, permettent de livrer le modèle numérique de l’EST à l’issue de la campagne d’essais et d’effectuer des analyses complémentaires par simulation.
Ces modèles seront particulièrement appréciés par les concepteurs de systèmes souhaitant disposer des propriétés CEM des sous-ensembles qui le composent, de façon aussi précise et réaliste que possible. et une librairie de drivers d’instruments.